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      JESD22-A103-E-高溫貯存壽命

      高溫貯存試驗通常用于確定貯存條件下時間和溫度對熱故障機制的影響,以及固態電子設備(包括非易失性存儲設備)的時間-故障分布(數據保留故障重建機制)。在試驗過程中,在不施加電氣條件的情況下,使用加速應力溫度,根據時間、溫度和包裝(如有),利用阿倫尼烏斯加速方程建立了熱失效機理模型。

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